ダイバージェンス測定

DataRay は、ビームプロファイラをフルレンジで提供しており、カメラベースとスキャニングスリットベースの両方でビームダイバージェンス（発散角）測定方法を提供します。

ビームダイバージェンスは、ビームダイバージェンスが一定になるファーフィールドで定義されます。
ダイバージェンスの高いビームでは、ファーフィールドで直接ダイバージェンス測定を行うことができます。
一方、ダイバージェンスの低いビームやコリメートされたビームでは、ビームウエストやファーフィールドへのアクセスが困難であったり、定義が難しい場合があります。

ファーフィールドダイバージェンスを測定する場合：

ファーフィールド（ビームウエストからレイリーレンジ x4 以上）の場合
- BeamMap2（と適切な平面間隔）を使用して、ダイバージェンスモードで、1～350 mrad（0.02°～20°）のビームダイバージェンスをリアルタイムで直接測定します。
　CWレーザーや高繰り返し率パルスレーザーに好適な方法です。
- リニアステージに単一平面ビームプロファイリングカメラまたはスキャニングスリットビームプロファイラを搭載します。
　複数の Z 位置に沿ってビーム径を測定し、ダイバージェンスを直接測定します。
- 単一平面ビームプロファイリングカメラまたはスキャニングスリットビームプロファイラを使用します。
　点光源を想定して、光源から既知の距離 Z でビーム径を測定し、ダイバージェンスを直接測定します。
ニアフィールドとファーフィールドの場合 － BeamMap2 の M² モードを使用します。ビームウエストをゼロ面とします。
最初の３つの面はニアフィールド、最後の面はファーフィールドです。
これにより、リアルタイムの M2 とダイバージェンス測定が可能です。
ニアフィールド、ファーフィールドまたは不明の場合 －補助レンズと適切なビームプロファイリングカメラまたは
スキャニングスリットビームプロファイラと一緒に使用します。
どれが最も適しているかわからない場合は、ご相談ください。