一般照明用LED & ランプのフリッカ測定機能付き分光照度計

BTS256-EF 概要

従来の照度計は、分光計(MSC15)に置き換えられつつあります。ただし、照明業界には、より複雑な測定を処理できる高精度の分光光度計も必要です。これらには、パルス幅変調光の測定、内部照明と外部照明の両方を測定する機能、ランプの熱過渡挙動の測定などが含まれます。そのために計測器は質の高い光測定機能が常に求められます。使いやすさや表示機能を改良しても、測定結果が標準以下であればその埋め合わせはできません。

一般的な照明目的のランプや照明器具の製造者は、電磁感受性の観点から製品の安全性を認定する際に、光のちらつきを考慮する必要があります。主電源の変動の影響に加えて、ランプと照明器具自体によって引き起こされるフリッカ効果を考慮する必要があります。

ギガヘルツオプティック社の BTS256-EF 分光光度計は、一般照明に関連する全ての光パラメーターを決定するための汎用の測定器です。プログラマブル AC 電源と組み合わせると、BTS256-EF は、電圧変動耐性テスト IEC TR 61547-1:2017 を含む、ランプや照明器具の統合的なフリッカテストシステムにもなります。

BTS256-EF – 高品質のスペクトルおよび色測定

BTS256-EF は、一般照明の光と色を測定する装置です。Bi-Tec センサーが、この測定器の特徴です。これは高速フォトダイオードと CMOS アレイ検出器で構成されるセンサーで、最新の測定要件をすべてサポートするための機能です。

  • 拡張照明の正確な評価のためのコサイン視野照度測定(クラス B DIN 5032 パート 7 または JIS C 1609-1:2006 による AA)
  • フリッカ測定
  • LED ライト、色、演色、色効果に必要なスペクトル測定技術
  • パルス変調光、フリッカ測定に同期するためのフォトダイオード
  • α-optic 測定(CIE:TN-003)
  • モバイル用のコンパクトで堅牢な設計

BTS256-EF – フリッカ測定

BTS256-EF はすべてのフリッカ測定をサポートします。

  • フリッカ率(IES:RP-16-10、CIE:TN-006)
  • フリッカインデックス(IES:RP-16-10、CIE:TN-006)
  • FFT 周波数成分分析
  • Pst 短時間フリッカの重大度(CIE:TN-006、IEC TR 61547)
  • ストロボスコープ視程測定、SVM(CIE:TN-006、IEC TR 63158)
  • Mp ASSIST フリッカ知覚メトリック
  • Joint Appendix JA10

さらにパワーサプライ LPS-CH-500 と共に BTS256-EF を動作させる時、IEC TR 61547 に準拠したフリッカテストができます。これらのテストの目的は、外乱信号の影響下にある交流回路で照明が動作する時のフリッカ安定度を検査することです。

BTS256-EF – 植物成長における光合成活性放射(PAR)

植物の成長のための LED 照明は、生成する光合成活性放射(PAR)の観点から測定する必要があります。BTS256-EF にはこの測定機能もあります。µmol /(m2* s)の光合成光子束密度(PPFD)を測定できます。これは、1 平方メートルの面積あたり毎秒表面に到達する PAR 波長の光子の総数の尺度です。さらにこの測定器で、植物が 1 日の間に受け取った光合成活性放射の総量を表す昼光積分(DLI)も表示できます。

BTS256-EF の校正

光測定器の重要な品質の 1 つは、正確でトレーサブルな校正です。BTS256-EF は、ISO / IEC 17025 に準拠した分光感度と分光放射照度についてドイツ認定機関(DK-15047-01-00)の認定を受けたギガヘルツオプティックの校正ラボによって校正されています。校正には、対応するアクセサリー部品も含まれています。すべてのデバイスには、校正証明書が付属しています。

【BTS256-EF のオプション】

  • デバイスをユーザー独自のソフトウェアに統合するためのソフトウェア開発キット
  • ソフトウェアツール S-T-Flicker および プログラマブル電源 LPS-CH-500 による試験機能拡張(IEC TR61547-1:2017 準拠の一般照明テスト、EMCイミュニティ試験、Part1: An objective light flicker and fluctuation immunity test method)

フリッカ測定を含む照明技術の複雑な測定のためのBTS256-EF

フリッカ測定を含む照明技術の複雑な測定のための BTS256-EF

BTS256-EF の原理図

  • BTS256-EF
  • 精密コサインディフューザ
  • Siフ ォトダイオード、CMOS ダイオードアレイ分光計およびシャッターを備えたBiTec センサー
  • 高速増幅器を備えた測光 Si フォトダイオード
  • マイクロプロセッサ
  • ディスプレイ
  • コントロールボタン
  • USB 2.0 インターフェース
  • 光の入射

正確なコサイン視野角機能を備えたBTS256-EFライトメーター

正確なコサイン視野角機能を備えた BTS256-EF ライトメーター

Principle illustration light-flicker test system

光フリッカ試験システムの原理
1.1 テスト波形ジェネレータ
1.2 アンプ
2.1 試験対象のランプ/照明器具
3.1 データ生成光
3.2 光データ収集
3.3 アンチエイリアシングフィルター
3.4 高速光検出器
3.5 スペクトル放射計
4. フリッカ測定ツールを備えたユーザーソフトウェア


特長

  • モバイル測定デバイス
  • V(λ)フォトダイオードを備えたBiTecセンサー
  • 10nmの光学帯域幅と追加の光学帯域幅補正(CIE214)を備えた低迷光CMOS分光放射計
  • リモート制御オフセットシャッター
  • 正確なコサイン補正視野
  • データロガー
  • 自動PWM同期
  • Pst / SVM / フリッカインデックスなどのフリッカ測定

仕様

全般 照度(明所視, 暗所視, メラノピック)、光合成活性放射(PAR)、スペクトル、光の色、演色評価数、フリッカ測定用の分光放射計

測定範囲

1 lx - 199,000 lx、360 nm - 830 nm、0.25 Hz - 40 kHz のフリッカ周波数

代表的なアプリケーション

照明業界向けの正確な分光光度計

校正

工場標準、国際標準にトレーサブル

製品

センサー

class B DIN 5032 part 7 or AA according to JIS C 1609-1:2006 class A DIN 5032 part 7 for f1’ and f4, or general precision class according to JIS C 1609-1:2006 class L DIN 5032 part 7 for U response, IR response, f3, f6 and f7

センサー

フォトメトリックブロードバンド検出器とアレイ分光計を備えたバイテクノロジセンサー
暗信号自動調整用のアパーチャ

入力光学系

直径 20 mm のディフューザウィンドウ, コサイン補正された視野, f2 エラー ≤3%

フィルター

精密な CIEフォトメトリックマッチングによるスペクトル応答性
スペクトル測定データによるフォトメトリックマッチングのオンライン補正(スペクトルミスマッチ係数補正)

フリッカ

測定量 : フリッカ率(IES : RP-16-10、CIE : TN-006) ・ フリッカ指数(IES : RP-16-10、CIE : TN-006) ・ フリッカ周波数 ・ 高速フーリエ変換(FFT) ・ Pst 短時間フリッカ重大度Pst(CIE : TN-006、IEC TR 61547) ・ ストロボ効果可視性測定 SVM(CIE : TN-006、IEC TR 63158) ・ Mp ASSIST
BTS256-EFの内部メモリは限られているため、PCを使わずハンドヘルドメーターのみで使用する場合は、次の周波数範囲にのみアクセスできます。

測定時間(センサー) 測定時間(フリッカ) サンプリングレート 上限カットオフ周波数 下限カットオフ周波数 許容可能なS/N比での周波数の不確実性 FFT周波数分解能
50 ミリ秒 41.0 ミリ秒 20 マイクロ秒 5 kHz 60 Hz 1%+-0.5 Hz 25 Hz
100 ミリ秒 81.9 ミリ秒 40 マイクロ秒 5 kHz 30 Hz 1%+-0.5 Hz 12.5 Hz
200 ミリ秒 163.8 ミリ秒 80 マイクロ秒 2.5 kHz 15 Hz 1%+-0.5 Hz 6.3 Hz
500 ミリ秒 327.7 ミリ秒 160 マイクロ秒 1.2 kHz 8 Hz 1%+-0.5 Hz 3.2 Hz
1000 ミリ秒 655.4 ミリ秒 320 マイクロ秒 0.6 kHz 4 Hz 1%+-0.5 Hz 1.6 Hz
3000 ミリ秒 2620 ミリ秒 1280 マイクロ秒 150 Hz 1 Hz 1%+-0.1 Hz 0.4 Hz
6000 ミリ秒 5240 ミリ秒 2560 マイクロ秒 75 Hz 0.5 Hz 1%+-0.05 Hz 0.2 Hz
12000 ミリ秒 10486 ミリ秒 5120 マイクロ秒 33 Hz 0.25 Hz 1%+-0.02 Hz 0.1 Hz

BTS256-EFを、PC およびS-BTS256 またはS-SDK-BTS256ソフトウェアと組合せて使用すると、測定範囲は次の範囲に広がります。

測定時間(センサー) 測定時間(フリッカ) サンプリングレート 上限カットオフ周波数 下限カットオフ周波数 許容可能なS/N比での周波数の不確実性 FFT周波数分解能
5 ~ 180000ミリ秒(3 min) 5 ~ 180000ミリ秒 最小25 マイクロ秒(40kHz) 5 kHz 2.5/meas.time 1% ±0.5 Hz 1/meas.time

スペクトル検出器

チップ CMOSダイオードアレイ
スペクトル範囲 (360 - 830) nm
光帯域幅 10 nm
CIE 214に準拠した数学的光学帯域幅補正を自動的に適用可能
データ解像度 1 nm
積算時間 (5.2 - 30000)ミリ秒
シャッター 光測定と同じ積分時間の暗信号測定用の自動絞り
開口遅延 = 100 ms
一般的な測定時間 199,999 lx ≤ 5ミリ秒(白色光)
100 lx ≤ 30秒(白色光)
色測定範囲スペクトル (1 - 199,999) lx
暗所 暗所視測定範囲スペクトル (1 - 199,999) lx
暗所視照度のキャリブレーションの不確かさ ± 2.2 %
ピーク波長 ± 1 nm
主波長 ± 1 nm
再現性ΔxおよびΔy ± 0.0001(標準光源タイプ A)
± 0.0002(LED)
ΔyΔxの不確かさ ± 0.002(標準光源タイプ A)
± 0.005(標準LED)
CCT測定範囲 (1700 - 17000) K
ΔCCT ± 50 K(標準光源タイプ A)
± 4 %(LEDスペクトルによる)
CRI(演色評価数) Ra および R1 から R15
迷光 6E-4(青色LED)
6E-4(緑色LED)
6E-4(赤色LED)
1E-3(白色LED)
(標準値、LEDのピークの左側で 100 nm で測定)
校正の不確かさ スペクトル放射照度
λ u(k=2) λ u(k=2)
(360 - 399) nm ± 5.5 % (480 - 779) nm ± 3.8 %
(400 - 479) nm  ± 4 % (780 - 830) nm ± 4.3 %
分光放射感度(360 - 830)nm

積分検出器

校正の不確かさ

照度 : ± 2.2 %

f1 ' (スペクトルミスマッチ)

≤ 6 %(未修正)
≤ 3 %(f1' a*(s z (λ))、F*(s z (λ)) は、それぞれスペクトルデータにより補正、BTSテクノロジーにより自動的に実行)

最大照度

≥ 199,999 lx

ノイズ相当光束

≤ 0.01 lx

ADC

12ビット

測定時間

(0.1 - 6000)ミリ秒

温度範囲

ダイオードの測定値は、内部温度センサーによって補正されます。

グラフ

f2 コサイン誤差 f2 コサイン誤差
スペクトル応答性 スペクトル応答性

その他

マイクロプロセッサ

16ビット, 25 ns instruction cycle time

電源

5 VDC, 450 mA per USB

インターフェース

USB 2.0(タイプ B USBポート)

温度範囲

動作時 : ( 10〜30)°C
保管時 : (-10〜50)°C

ハウジング

防滴 IP54

寸法

159 x 85 x 45 mm(L x W x H)

重さ

500 g

輸送ケース

333 x 280 x 70 mm, 650 g


ソフトウェア

BTS256シリーズのソフトウェア開発キット

ソフトウェア開発キット S-SDK-BTS256

BTS256シリーズ用のアプリケーションソフトウェア


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