CW&パルス測定、最小のノイズ、高速データ読み取り、測定範囲: 950~2150 nm
BTS2048-IRは冷却付InGaAsアレイ検出器と、BTSテクノロジ用の冷却InGaAsフォトダイオードが組み込まれています。
概要
BTS2048-IRは、分光用アレイ検出器と強度検出用フォトダイオードが相互補正する、BTSテクノロジを採用した赤外分光放射計です。
革新的な検出技術
低ノイズの InGaAs チップとスペクトル範囲を拡張した InGaAs チップ両方の利点を活かすための検出 器技術を採用しました。これにより、スペクトル範囲が最適化され、ベストな電気光学特性が得られます。 電子シャッター、OD フィルター、実績のある BTS テクノロジなどのその他の機能は、通常どおりです。
機能
- 950 nm から 2150 nm のスペクトル範囲
- BTS テクノロジ(2つのセンサーによる相互補正技術)
- 4つのポジション(オープン、ダーク、OD1、OD2)を備えたフィルターホイールと電子シャッター
- コンパクトサイズ
- イーサネットおよび USB インターフェースによる高速データ伝送
- 入力・出力用の各種コネクタ
- トレーサブルな校正
ユーザーソフトウェアとS D K( ソフトウェア開発キット)
付属のS-BTS2048 ユーザーソフトウェアは、画面をユーザーがカスタマイズ可能です。必要な機能を選んで画面に表示、配置を変更できます。別売りの S-SDK-BTS2048のソフトウェア開発キットは、多くのプログラミング環境(C#、LabView、Python、Matlab、.NET、Delphi など)に統合できるCライブラリ(DLL)です。
校正
正確でトレーサブルな校正は、光測定器の重要な品質の1つです。BTS2048-IR は、ISO / IEC 17025 に基づくスペクトル応答性とスペクトル放射照度についてドイツ認定機関 DAkkS(DK-15047-01-00) の認定を受けた Gigahertz-Optik の校正ラボによって校正されています。
熱電冷却アレイ検出器を備えたBTS2048-IR 分光放射計
トリガや入出力用のコネクタポート
S-BTS2048 ユーザーソフトウェアインターフェース
仕様
一般
説明 | CW およびパルスの放射照度、スペクトル、ピーク波長の測定のための広いダイナミックレンジを備えたTE 冷却 CCD 分光放射計。他のパラメーター測定用に別売りのアクセサリー。 |
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主な特長 | コンパクトサイズ 裏面入射型 TE 冷却 CCD(512ピクセル、9 nm の光学分解能、電子シャッター)と、フィルター付 InGaAs ダイオードアレイの相互補正による BiTec 検出器 光帯域幅補正(CIE214) シャッター付きフィルターホイールとODフィルター 拡散板付き入力レンズ、コサイン視野 |
測定範囲 | スペクトル検出:3E-4 W /(m2nm)~1.6E4 W /(m2nm)@ 1600 nm。950 nm から 2150 nmまでの応答性 積分検出:2E1 W / m2~6E7 W / m2、1050 nm~2100 nm の応答性 |
主な用途 | R&Dやテストシステムへの組込み |
校正 | 工場で校正済み。国際校正標準にトレーサブル |
製品
測定値 | 分光放射照度(W /(m2nm))、放射照度(W /m2)、分光放射強度(W /(sr nm))、放射強度(W / sr)、ピーク波長、中心波長、重心波長など。 積分球オプション:分光光束(W / nm)の測定 ゴニオメーターオプション:放射強度(W / sr)の測定 |
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入力光学系 | コサイン補正視野のディフューザ |
フィルターホイール | 4 ポジション(オープン、クローズ、OD1、OD2) リモートでの暗電流測定やダイナミックレンジの拡張に使用 |
BiTec | フォトダイオードとアレイダイオードによる並列測定ができ、アレイの直線性をフォトダイオードで補正し、a *(s z(λ))またはF *(s z(λ))によりダイオードのスペクトル不整合をオンライン補正 |
スペクトル検出器
校正の不確かさ
分光放射照度
波長範囲 | 校正の不確かさ (k = 2) |
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(950~1039)nm | 4 % |
(1040~1549)nm | 4,5 % |
(1550~1949)nm(センサー 1※) | 5 % |
(1550~1949)nm(センサー 2※) | 6 % |
(1950~2049)nm | 6,8 % |
(2050~2150)nm | 7,5 % |
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※この領域ではセンサー 1からセンサー 2への移行が行われるため、測定の不確かさが増大します。
分光放射照度応答(950-2150)nm
積算時間 | 10 µs-20 s *5 |
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スペクトル範囲 | (950-2150)nm |
光学バンド幅 | 9 nm |
ピクセル解像度 | ~ 2.3 nm / ピクセル |
ピクセル数 | 512 |
チップ | 2 次フィルターを備えた冷却型高感度InGaAs チップ |
ADC | 16 ビット |
ピーク波長 | ± 1 nm |
バンドパス補正 | オンラインのバンドパス補正あり |
直線性 | 完全に補正されたチップ>99% *4 |
ベースラインノイズ | 7cts *1 |
SNR | 5000 *2 |
ダイナミックレンジ | 8 マグニチュード |
分光放射照度応答範囲
積分検出器
フィルター | 放射マッチングしたスペクトル応答性 スペクトル測定データによる放射マッチングのオンライン補正(スペクトルミスマッチ係数補正) |
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測定範囲 | オフセット補正を備えた9 つの測定範囲 |
測定範囲 | 放射照度の最小測定値(ダイオード):15 W / m2 放射照度の最大測定値(ダイオード):6E7 W / m2 応答範囲:(1050-2100)nm |
その他の仕様
マイクロプロセッサ | デバイス制御用 32 ビット、CCD アレイ制御用 16 ビット、フォトダイオード制御用 8 ビット |
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インターフェース | USB V2.0、イーサネット(LAN UDPプロトコル)、RS232、RS485 |
データ転送 | Ethernet 経由で 512 アレイのデータを標準 5 ミリ秒で転送 |
入力インターフェース | 2個x(0-25)VDC、1個x 5 V / 5 m A (optocoupler isolated) |
出力インターフェース | 2x オープンコレクタ、最大 25 V、最大 500 mA |
トリガ | トリガ入力対応(立上り / 立下がりエッジ、ディレイなど、異なるオプション) |
ソフトウェア | ユーザーソフトウェア S-BTS2048 付属 オプションのソフトウェア開発キット S-SDK-BTS2048 (C、C ++、C#、LabView の DLL に基づくユーザーソフトウェアのセットアップ用) |
電源 | 電源付き:3000 mA で DC 入力 5V(±10 %) |
温度範囲 | 温度安定化チップ:≤±0.25°C |
外形寸法 | 135 mm x 107 mm x 9 0 mm(長さx 幅x 高さ) |
重量 | 1000 g |
マウント | 三脚および M6 ねじ フロントアダプタ UMPA-1.0-HL(積分球ポート UMPF-1.0-HL と接続可能) |
温度範囲 | 保管時:(-10~50)°C 動作時:(10~30)°C *3 |
補足
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*11 ms の積分時間で平均化せずに測定された一般値(標準偏差)。ベースラインを平均すると、ノイズ値は減少します。
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*2平均化せずに 1ms の測定時間で検出器の完全飽和で測定された一般値。平均化すると、SNR が増加します。
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*3装置の温度が安定するまでに約 25 分かかります。
ウォームアップ段階または不安定な温度下で測定を実行する場合、測定ごとに新たにダーク測定が必要です。 -
*4スペクトル範囲に応じて2つの異なるチップを使用します。長波長側 (extended InGaAs) は、積分時間が長くなると不確実性が増す可能性があります。
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*5積分時間が長くなると、extended InGaAsセンサーの飽和が周囲温度によって制限される場合があります。
組合せ可能なオプション
製品名 | 製品イメージ | 説明 |
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個別の2πおよび4π光源の光束と色を測定するためのシステム 直径100 cm の積分球、補助ランプ付き、半球シェルでの開閉 |
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CW およびパルス測定モードでのLED テストシステム統合用コンパクトな積分球 直径15 cm の積分球、補助ランプ付き |
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76.2 mmまでの2πLEDランプの光束と光の色を測定するシステム 直径25 cm の積分球、補助ランプ付き |
注文情報
種別 | 型番 | モデル | 説明 |
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製品 | 15308288 | BTS2048-IR | 測定装置、ハードカバーボックス、ユーザーガイド、S-BTS2048ソフトウェア、校正証明書 |
ソフトウェア | 15298470 | S-SDK-BTS2048 | ソフトウェア開発キット。ユーザーガイド付き |
技術資料
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