UV分光放射計（ラボ用）
BTS2048-UV
紫外LEDや紫外線ランプのスペクトルと放射照度を計測
- 波長範囲 200 ～ 430 nm
- 高速インターフェースと電子シャッター
- 高い光学分解能
- UV LED、重水素ランプ、タングステンランプの測定に
- 迷光対策により正確な校正と計測を実現
- 相互に補正する2つのセンサーを搭載（BiTecセンサー）
概要
UV CCD 分光放射計 vs 広帯域 CCD 分光器
従来のCCDディテクタのスペクトル応答性は、一般的に200 nmから430 nmの範囲です。多くの場合、CCDディテクタの広いスペクトル応答範囲がそのまま分光放射計の応答範囲とされています。ただし、これは分散グレーティングのスペクトル応答性を考慮していないため、UV域での検出器の応答性はさらに低下します。このためUVの測定信号に重大なエラーが発生します。広帯域分光器のスペクトル分解能は、狭帯域UV LEDの正確な測定を保証するには不十分な場合がよくあります。
UV放射用に特別に設計されたCCD分光放射計は、制限されたスペクトル範囲を持ち、非常に高いスペクトル分解能と非常に高いグレーティング効率を可能にします。さらに、光学フィルターを使用して迷光を大幅に減らすこともできます。
UV測定用のBTS2048-UV CCD分光放射計
BTS2048-UVは、ハイエンドの分光放射計のすべての要件を満たし、先端の技術でありながらもお求めやすい価格です。
BiTecセンサーの特徴は、CCD分光アレイと シリコンフォトダイオードの相互補完です。非常に高速な測定を可能にする高い線形性レベルを提供します [参照：BTSテクノロジ（BiTecセンサー）について] 。冷却付きの2048ピクセルCCD検出器は、積分時間が2 µs ～ 60 sで、非常に広いダイナミックレンジを持ちます。これにより、幅広い強度レンジでUV LEDの正確な測定が可能になります。この設計は、190 nm～430 nmのスペクトル測定範囲全体で0.8 nmの高い光学分解能を提供します。分光計には、自動で迷光を低減する 2つの光学フィルターも装備されています。この迷光を低減する測定は、他の光が存在する場所で UVランプやUV LEDを測定する場合に必須です。BiTecセンサー内のSiCフォトダイオードは、CCDの線形化や参照用として使用されます。SiCフォトダイオードの放射感度機能により、CCDに依存せずに使用できます。放射分析の精度は、それぞれのスペクトル データを使用して自動修正されます。したがって、このデバイスを使用すれば、微弱な信号でも高速測定を実行できます。BTS20418-UVはゴニオメーターとの統合もできます。コンパクトな寸法（103 mm x 107 mm x 52 mm – L x W x H）ですが、BTS2048-UV 分光放射計には、２つの光学フィルターと暗測定用のシャッターを備えたリモート制御フィルターホイールがあります。
200 nm までの放射照度を絶対校正！
長年の経験をもち設備が整ったDAkkS校正ラボ（DK-15047-01-00）で、Gigahertz-Optikは200 nmまでのトレーサブルな校正を提供できます。これにより、BTS2048-UV および UVC LEDの応用範囲が広がります。短波長域については、Gigahertz-Optikは特別な重水素ランプでの校正方法を採用しています 。
前工程および後工程のLED テスト測定で使用
BTS2048-UVは、産業用途では前工程と後工程のUV LEDのテストに最適です。CCDディテクタには、測定が開始される前にすべてのピクセルをゼロ設定する機能（電子シャッター）があります。測定のLEDがパルスモードで動作している場合、電子シャッターと測定のトリガは、ポートを介してLEDの電源と同期できます。強力なマイクロプロセッサは、高速LANインターフェースを介して完全なデータセットをコンピューターにわずか7 ミリ秒で転送します。
ライトガイドを使用せずに直接取り付け
BTS2048-UV 分光放射計には拡散板のウインドウから光を入力します。追加のアクセサリー部品なしでUVスペクトルと放射照度を測定できます。放射パワー、放射輝度、および放射輝度分布の測定には BTS2048-UV 本体を積分球、放射輝度レンズ、ゴニオメーターなどのアクセサリーに直接取り付けて測定することもできます。
ユーザーソフトウェアと開発者ソフトウェア
標準のS-BTS2048 ユーザーソフトウェアは、カスタマイズ可能なユーザーインターフェースを備えています。Gigahertz-Optikの各アクセサリー コンポーネント使用する場合にアクティブ化できる多数のディスプレイおよび機能モジュールもユーザーソフトウェアには装備されています。 別売りのS-SDK-BTS2048 ソフトウェア開発キットは、顧客自身のソフトウェアにBTS2048-UVを統合するために提供されます。
校正
BTS2048-UV 分光放射計には正確でトレーサブルな校正がついています。BTS2048-UVは、ISO/IEC 17025に準拠したスペクトル応答性およびスペクトル放射照度について ドイツ認定機関DAkkS (DK-15047-01-00) によって認定されたGigahertz-Optikの校正ラボによって校正されています。校正には、アクセサリーコンポーネント（ご注文いただいた場合）も含まれています。すべてのデバイスに校正証明書が付属しています。
標準装備のユーザーソフトウェア S-BTS2048
LANインターフェースによりデータ転送時間を短縮
電子シャッターにより測定時間を短縮
仕様
一般
| 概略 | 広いダイナミックレンジを持ち、UVに最適化された TE冷却CCD分光放射計。 放射照度、スペクトル、およびピーク波長を連続およびパルスモード測定。 他のパラメーター測定用に別売りのアクセサリーあり。 |
|---|---|
| 主な特長 | コンパクトなデバイス。 TE冷却CCD（2048 ピクセル、0.8 nm光学分解能、電子シャッター）、および SiC フォトダイオードを備えたBiTec センサー。 光帯域幅補正（CIE214）。シャッターとエッジフィルター付きフィルターホイール。 拡散板ウィンドウ付き入力レンズ。コサイン FOV。 |
| 測定範囲 | スペクトル測定：3E-5 W /（m2nm）to 3E4 W /（m2nm）@ 325 nm。Responsivity from 190 nm to 430 nm。 |
| 積分測定 | 2E5 W /m2 to noise equivalent level by 5E-3 W /m2 |
| 主な用途 | 設計用途向けのCCD分光放射計。 前工程および後工程のLEDテスト用のシステムに統合するための測定モジュール。 |
| 校正 | 工場での校正。国際校正標準にトレーサブル。 |
製品
| 測定値 | 分光放射照度（W / (m2nm) ）、放射照度（W /m2）、ピーク波長、中心波長、重心波長、 紅斑（Erythema）。 積分球オプション：分光放射パワー（W / nm）と 放射パワー（W）。 |
|---|---|
| 入力光学系 | 拡散板ウインドウ、コサイン補正 FOV（f2 ≤3 %）。 |
| フィルターホイール | 4 ポジション（オープン、クローズ、光学フィルター）。リモートでの暗電流測定や迷光低減に使用。 |
| BiTec | フォトダイオードとアレイダイオードによる並列測定ができ、アレイの直線性をフォトダイオードで補正し、a *（s z（λ））またはF *（s z (λ)）によりダイオードのスペクトル不整合をオンライン補正。 |
| 測定モード | 標準測定モード：200 nm 〜 430 nm 範囲外の迷光補正測定モード（OoR SLC）：200 nm 〜 430 nm 迷光補正バンドパス測定モード（BP SLC）：300 nm 〜 386 nm |
校正の不確かさ
分光放射照度
| (200 - 249) nm | ± 12 % |
|---|---|
| (250 - 299) nm | ± 7 % |
| (300 - 399) nm | ± 5 % |
| (400 - 430) nm | ± 4 % |
分光放射照度応答性（200 - 430）nm
スペクトル検出器
| 積分時間 | 2 µs - 60s*1 |
|---|---|
| スペクトル範囲 | （190 - 430）nm |
| 光帯域幅 | 0.8 nm |
| ピクセル解像度 | 〜 0.13 nm / Pixel |
| ピクセル数 | 2048 |
| チップ | 高感度バックシン CCD チップ、1 段冷却（1TEC） |
| ADC | 16 ビット（25 ns instruction cycle time） |
| ピーク波長 | ± 0.05 nm |
| バンドパス補正 | 数学的バンドパス補正 |
| 直線性 | 完全に線形化されたチップ > 99.6 % |
| 迷光 | アウトオブバウンド方式 < 1E-4*3 |
| ベースラインノイズ | 5 cts*4 |
| SNR | 5000*4 |
| ダイナミックレンジ | > 9 マグニチュード |
| スペクトル応答性 | （3E-5 - 3E4）W / (m2nm) @ 325 nm*5 *6 |
測定時間（一般値）
250 - 400 nm、ハロゲンランプの W / m2
| 1 | 4.4 秒 |
|---|---|
| 10 | 440 ミリ秒 |
| 100 | 44 ミリ秒 |
積分検出器
| フィルター | 220 nmから360 nmまでの矩形関数に対する応答性の数学的調整 （測定されたスペクトルデータを使用した放射分析関数に対するSMCFオンライン補正）※
|
|---|---|
| 測定時間 | （0.1～6000）ミリ秒 |
| 測定範囲 | transcendent オフセット補正を備えた 7 つの測定範囲 |
| 校正 | 放射照度 ± 6 %*9 |
| 測定範囲 | （5E-3 - 2E5）W /m2*10 |
グラフ
| スペクトル応答性 |
|
|---|---|
| f2（角度応答性 /コサインエラー） |
|
その他
| マイクロプロセッサ | デバイス制御用に32 ビット、CCDアレイ制御用に16 ビット、フォトダイオード制御用に8 ビット |
|---|---|
| インターフェース | USB V2.0、イーサネット（LAN UDP プロトコル）、RS232、RS485 |
| データ転送 | 2048アレイの転送速度 イーサネット7 ms、USB2.0 140 ms |
| 入力インターフェース | 0 - 25 VDC x 2 個、フォトカプラー（絶縁 5 V / 5 mA）x 1 個 |
| 出力インターフェース | オープンコレクタ x 2 個 （最大 25 V 500 mA） |
| トリガ | トリガ入力あり（立ち上がり / 立ち下がりエッジ、ディレイなどのオプション） |
| ソフトウェア | ユーザーソフトウェア S-BTS2048（標準装備） ソフトウェア開発キット S-SDK-BTS2048、C、C ++、C# または LabView の.dll（別売り） |
| 電源 | 電源：DC 入力 5 V（± 10 %）、700 mA または USB バス経由（500 mA）*7 |
| 寸法 | 103 mm x 107 mm x 52 mm（長さ x 幅 x 高さ） |
| 重さ | 500 g |
| マウント | 三脚用とM6のネジ穴 積分球のポートプレーム UMPF-1.0-HL と接続するためのアダプタ |
| 温度範囲 | 保管：（-10〜50）°C 動作：（10〜30）°C*8 |
情報
-
*1積分時間を変える度に新たに暗信号測定を実行することをお勧めします。
-
*2一般値、主波長の不確かさは LED のスペクトル分布に依存します
-
*3一般値、コールドホワイトブロードバンドLEDのピークの100 nm 左、およびディープブルーLEDピークで測定
-
*4一般値 測定時間 4 ms、アレイのフルスケール制御で平均化せずに測定。平均化すると、S/N値が2次上昇します。
つまり、ベースノイズが 2 次下降します。たとえば、100 倍に平均化すると、S/Nが10 倍向上します。 -
*5最小 500/1 S/N。フルスケール制御で最大
-
*6熱による損傷を避けるため、照射は短時間のみ
-
*7USB接続時は電流供給が限られているため、すべての機能が利用できるわけではありません。
（イーサネット不可、TEC冷却なしなど） -
*8デバイスが温度安定化するため約25分必要です。
もし測定がウォームアップ中や温度変化する環境で実行される場合は、測定ごとに暗信号測定が必要です。 -
*9重水素ランプによる（Z）補正あり
-
*10重水素ランプのスペクトルパワー分布において。 熱損傷を避けるために最大放射は短時間に限定。
技術資料
注文情報
測定器
| 15298858 | BTS2048-UV | 測定器、ハードカバーボックス、ユーザーガイド、S-BTS2048ソフトウェア、校正証明書 |
再校正
| 15300775 | K-BTS2048-UV | Gigahertz-Optik 社でBTS2048-UVの再校正、校正証明書付き |
ソフトウェア
| 15298470 | S-SDK-BTS2048 | ソフトウェア開発キット、ユーザーガイド付 |
| 15307925 | ST-RECAL-BTS2048 | S-BTS2048 ソフトウェアの機能拡張のためのソフトウェアモジュール ユーザー自身によるBTS2048シリーズの再校正作業のサポート |
アクセサリー
| 15312474 | BTS2048-Z03 | トリガー用ケーブル、LED 電源 LPS-20といっしょに使用 |
この製品に関するお問合せフォーム
フォームが表示されるまでしばらくお待ちください。
しばらくお待ちいただいてもフォームが表示されない場合、恐れ入りますが こちら までお問合せください。