狭線幅632nm 半導体レーザーモジュール
SLM シリーズ
各種計測機器向けに開発された半導体レーザーモジュールです。
中心波長 632.8 ± 0.5nm、線幅は<1kHz（typ) です。
SMF/PMF出力（1～25mW)、フリースペース出力（5～50mW) がお選びいただけます。
He-Neレーザーの代替光源として最適です。
71×58×19.80mm の小型ハウジングで重量は約135g です。
※出力は固定となります。
特長
- Locked-onVBG stabilized 632nm wavelength
- Power stable to
- 低電力
- コンパクトなワンボックス設計
- フリースペースと ファイバーアウトプット（4.3µm MFD SMF, 3µm MFD PMF）より選択可能
用途
- He-Neレーザーからの置き換え
- フローサイトメトリ
- 共焦点顕微鏡
- 蛍光励起用光源
- ラマン分光
- 干渉計
- パーティクルカウンタ
仕様
Operating Specifications
| Outputpower *1 | 20～50 mW |
|---|---|
| Spectral linewidth (typical) | < 1 kHz |
| Wavelength stability (over8hours) | +/- 2 pm |
| ASE suppression (typical) *2 | 40 dB |
| Optical power stability (over8hours) *3 | +/- 1 %rms |
| Noise (10Hz～100MHz) | 0.2 %rms |
-
*1Factory set to user specified power output (See Ordering Information Table for options)
-
*2High suppression to 100dB available
-
*3A+ +/- 3℃
Free Space Optical Specifications
| Beam quality (m2 typical) vertical | 1.2 |
|---|---|
| Beam quality (m2 typical) horizontal | 1.1 |
| Beam diameter vertical | 1.6 mm |
| Beam diameter hortizontal | 0.8 mm |
| Beam aspect ratio | 1.5～2 |
| Beam divergence-Xvertical | 0.8 mrad |
| Beam divergence-Xhorizontal | 1.3 mrad |
| Beam pointing stability (over 8 hours) | <50 ｣grad |
| Polarization ratio | 100：1 linear |
Electrical Specifications
| DC input (max) | 2A @ 3.3 V |
|---|---|
| Warm-up time (typical) | 2 min |
| Power consumption (typical/max) | 5 W |
| Interface.USB & 10-pin I/O connectors | |
| Case temperature *1 | 15～40 °C |
| Humidity (non-condensing) | 5～95 % |
-
*1Must be operated on a heat sink
技術資料
データシート
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