走査型プローブ顕微鏡（SPM）

走査型プローブ顕微鏡法（SPM）は、動作環境（周囲、液体、または真空）、対象の測定力のタイプ（短距離または長距離）、および作動方式（機械的、電気的、磁気的、光学的）に応じてさまざまな形態を取ります。 SPMは、定評のある高解像度のイメージングツールです。
単一原子、単一分子、量子ドットなどのナノオブジェクトの特定や操作に使用でき、ナノテクノロジーやナノオプティクス分野の学術的プロジェクトでは、しばしば主役を演じています。

Zurich Instrumentsは、SPMの計測の課題、特に新しい動作モード、新しいセンサー、または高速のリアルタイムデータ収集とフィードバックループに関連する課題に焦点を当てています。
Zurich Instrumentsは、DC〜600 MHzの周波数をカバーする機器を使用して、SPMスペシャリストが時間領域および周波数領域のデータ分析を実行し、複雑なチップとサンプルの相互作用をキャプチャおよび制御できるようにします。

以下の表に示すように、各機器プラットフォームには、SPMセットアップをユーザーのニーズに合わせて拡張できるオプションが準備されています。また、実験セットアップが複雑な場合には、複数機器の同期動作も可能です。

Zurich Instrumentsは、ScientaOmicron社 UHV-SPMシステム や Bruker Anasys Instruments社原子間力顕微鏡赤外線分光法（AFM-IR）との統合ソリューションの提供により、また、ほとんどのサードパーティ製顕微鏡にそれぞれの信号アクセスモジュール（SAM）を介して、アナログおよびDIOインターフェースを提供することにより、SPMコミュニティ全体にサービスを提供しています。

SPM実験でZurich Instrumentsを使用する3つの理由

• SPMモードを自由に実装し、既存のSPMプラットフォームで新しい計測技術を開発できます。
• 選択した実験構成の最適化を確保しながら、最高のSN比または復調速度が保証されます。
• 豊富な時間領域および周波数領域の分析およびデータ収集ツールのおかげで、パラメータ空間を探索できます。

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