JIMTOF2024 第32回日本国際工作機械見本市

JIMTOF2024 第32回日本国際工作機械見本市に初出展します！
3次元計測機器の調整に有効な、SIOS社の『高精度レーザー干渉計・精密ポジショニング計測システム』と
機器診断のアプリケーションや、プロセスモニタリングに広く応用が可能な、XARION社の『レーザーマイクロホン』を展示予定です。