Beam'R2 回転スキャンタイプのビームプロファイラーです。
ディテクターは以下の2つのいずれかから選ぶことが可能です。
- Si(190~1150nm)
- InGaAs(650~1800nm)
本ビームプロファイラーのユニークな特長として、Si とInGaAs 両方のディテクターを搭載し、1台で幅広い波長帯に対応することも可能です。
また、ディテクターを2つ搭載した場合に限り、InGaAs(extended)ディテクターを搭載可能で、最長で~2,500nmまで測定可能です。
特長
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幅広い波長に対応
190 ~ 1150nm、Silicon ディテクター
650 ~ 1800nm、InGaAs ディテクター
1000 ~ 2300 または 2500nm、InGaAs(extended)ディテクター - ビーム径 5µm ~ 4mmまでのレーザーに対応(Siディテクター、Knife Edgeモード 1µm設定時)
- 0.1µm の測定分解能
- Linear & log X-Y profiles, centroid
- プロファイルズーム & スリット幅補正 機能あり
- CW; パルスレーザー、Φµm ≥ [500/(PRR in kHz)]
- USB2.0、バスパワー駆動
- M² 測定オプションあり(ビーム伝播、広がり角、フォーカスの解析に)
アプリケーション
- レーザープリンティング及びマーキング用のレーザーの測定
- 医療用レーザーの測定
- 半導体レーザーシステムの測定
- 通信用ファイバーオプティクの組立焦点合わせ(要LensPlate2™ オプション)
- レーザーの開発、及びレーザーシステムの点検、修理
- M²の測定(要 M2DUステージ)
仕様
Wavelength | Si detector: 190 to 1150 nm InGaAs detector: 650 to 1800 nm Si + InGaAs detectors: 190 to 1800 nm Si + InGaAs (extended) detectors: 190 to 2300 or 2500 nm |
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Scanned Beam Diameters | Si detector: 5 µm to 4 mm‚ to 1 µm in Knife-Edge mode InGaAs detector: 10 µm to 3 mm‚ to 1 µm in Knife-Edge mode InGaAs (extended) detector: 10 µm to 2 mm‚ to 1 µm in Knife-Edge mode |
Beam Waist Diameter Measurement | Second moment (4s) diameter to ISO 11146 Fitted Gaussian & TopHat 1/e² (13.5%) width User selectable % of peak Knife-Edge mode for very small beam |
Measured Sources | CW; Pulsed lasers‚ Φ µm ≥ [500/(PRR in kHz)] |
Resolution Accuracy | 0.1 µm or 0.05% of scan range ± < 2% ± = 0.5 µm |
Maximum Power & Irradiance | 1 W Total & 0.5 mW/µm² |
Gain Range | 1‚000:1 Switched 4‚096:1 ADC range |
Displayed Graphics | X-Y Position & Profiles‚ Zoom x1 to x16 |
Update Rate | ~5 Hz |
Pass/Fail Display | On-screen selectable Pass/Fail colors. Ideal for QA & Production. |
Averaging | User selectable running average (1 to 8 samples) |
Statistics | Min.‚ Max.‚ Mean‚ Standard Deviation Log data over extended periods |
XY Profile & Centroid | Beam Wander display and logging |
Minimum PC Requirements | Windows, 2 GB RAM, USB 2.0/3.0 port |
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※製品仕様は改良等により、予告なしに変更となる場合あります。
注文方法
制作中
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